金相显微镜可用于芯片失效分析

芯片失效分析是提高产品质量的重要手段，通常芯片失效分析需要用到的仪器有多种，如体视显微镜，扫描电镜，微观显微镜，研磨机，切割机，超声波扫描显微镜，镀膜机等等，今天小编主要和大家介绍金相显微镜可用于芯片失效分析的光学设备。

金相显微镜一直是我司销售额占比较高的光学显微镜，由于其放大倍数高，成像清晰，可广泛用于产品外观及失效部位的表面形状，尺寸，结构，缺陷等观察。除此以外，汇光科技供应的金相显微镜还能为您产品分析拍照，做专业的金相分析报告等等，如果贵司有相关需求不妨先了解汇光科技的金相显微镜。

金相显微镜由于其功能多，除了可用于芯片失效分析，还可用于半导体晶圆检查，珠宝分析，切片分析，导电粒子分析，金相组织分析等等，是一款值得推荐的显微镜。

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